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失效分析應(yīng)用技術(shù)

失效分析應(yīng)用技術(shù)

定  價:79 元

        

  • 作者:陳保華
  • 出版時間:2019/4/1
  • ISBN:9787111620617
  • 出 版 社:機械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TB114.2 
  • 頁碼:238
  • 紙張:
  • 版次:
  • 開本:16開
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讀者對象:失效分析工作者,企業(yè)質(zhì)量管理人員、司法機構(gòu)的技術(shù)人員,以及相關(guān)專業(yè)在校師生

《失效分析應(yīng)用技術(shù)》一書全面系統(tǒng)地介紹了失效分析中常用的分析技術(shù)和方法,主要內(nèi)容包括失效分析概述、現(xiàn)場勘查技術(shù)、宏觀分析技術(shù)、斷口分析技術(shù)、金相分析技術(shù)、定量分析技術(shù)、X射線分析技術(shù)、電子光學(xué)分析技術(shù)、痕跡分析技術(shù)、裂紋分析技術(shù)、失效診斷技術(shù)、失效預(yù)防與安全評估、失效分析在司法鑒定中的應(yīng)用、失效分析報告的撰寫。本書理論和實踐結(jié)合緊密,每個章節(jié)都對所述及的知識點進行了系統(tǒng)的歸納總結(jié),有針對性地選用了180多個實際分析案例,用檢測結(jié)果或圖片印證了失效機理,實用性強。
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