本書系統(tǒng)介紹了常用集成電路測試的原理、方法和技術(shù)，范圍涵蓋了數(shù)字集成電路、模擬集成電路、SOC器件、數(shù)字/模擬混合集成電路、電源模塊、集成電路測試系統(tǒng)、測試接口板設(shè)計等方面。
第1章 集成電路測試概述
1.1 集成電路測試的定義
1.2 集成電路測試的基本原理
1.3 集成電路故障與測試
1.4 集成電路測試的過程
1.5 集成電路測試的分類
1.6 集成電路測試的意義與作用
1.7 半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展對測試的影響
第2章 數(shù)字集成電路測試技術(shù)
2.1 概述
2.2 典型的數(shù)字集成電路測試順序
2.3 數(shù)字集成電路測試的特殊要求
2.4 直流參數(shù)測試
2.5 交流參數(shù)測試
2.6 功能測試
第3章 半導(dǎo)體存儲器測試技術(shù)
3.1 存儲器的組成及結(jié)構(gòu)
3.2 存儲器的失效模式和失效機理
3.3 存儲器的故障模型及驗證方法
3.4 圖形算法在存儲器測試中的作用
3.5 存儲器的測試項目
3.6 內(nèi)建自測試在存儲器測試中的應(yīng)用
3.7 存儲器測試需要注意的問題
第4章 模擬集成電路測試技術(shù)
4.1 概述
4.2 模擬集成運算放大器測試技術(shù)
4.3 模擬集成比較器測試技術(shù)
4.4 影響運算放大器閉環(huán)參數(shù)測試精度的原因分析
4.5 集成穩(wěn)壓器測試技術(shù)
4.6 模擬開關(guān)集成電路測試技術(shù)
第5章 數(shù)�；旌霞呻娐窚y試技術(shù)
5.1 概述
5.2 ADC、DAC測試的必要性
5.3 測試方法
5.4 基于DSP的測試技術(shù)
5.5 DAC測試技術(shù)
5.6 ADC測試技術(shù)
5.7 數(shù)模混合集成電路測試參數(shù)分析
5.8 DA 和AD 測試相關(guān)誤差分析
第6章 DSP在混合電路測試中的應(yīng)用
6.1 DSP概述
6.2 DSP測試基礎(chǔ)
6.3 基于DSP的測試優(yōu)點
6.4 基于DSP的功能測試
6.5 基于DSP的動態(tài)參數(shù)測試
6.6 混合信號電路對基于DSP的測試系統(tǒng)的要求
第7章 SOC測試技術(shù)
7.1 前言
7.2 SOC芯片對測試的要求
7.3 SOC中混合信號測試
7.4 SOC混合信號測試的發(fā)展方向
第8章IVDQ測試
8.1 引言
8.2 IDDQ測試檢測的故障
8.3 IDDQ測試方法
8.4 IDDQ測試的局限性
8.5 △IDDQ測試
8.6 IDDQ內(nèi)建電流測試
8.7 IDDQ可測試性設(shè)計
8.8 小結(jié)
第9章 DC-DC參數(shù)測試方法
0章 集成電路測試系統(tǒng)
1章 設(shè)計到測試的鏈接
2章 測試接口板DIB設(shè)計技術(shù)
參考文獻
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