第1章 宏觀內(nèi)應(yīng)力的測量 1
1.1　內(nèi)應(yīng)力　 　1
1.2　基本原理　 　3
1.3　測試技術(shù)　 　6
1.4　實(shí)驗(yàn)方法　 　9
1.5　應(yīng)用　 　12
1.5.1　測量鋁合金拋丸處理后表面的殘余應(yīng)力　 　12
1.5.2　軸承鋼沿深度方向的殘余應(yīng)力分布　 　16
1.6　討論與實(shí)踐　 　17

第2章 織構(gòu)的測定與分析 19
2.1　織構(gòu)及其分類　 　19
2.2　織構(gòu)材料的衍射幾何特征　 　21
2.3　織構(gòu)的表示方法　 　22
2.4　直接極圖　 　23
2.4.1　極圖的定義　 　23
2.4.2　極圖的測繪　 　26
2.4.3　組合試樣法測繪完整極圖　 　30
2.4.4　極圖分析　 　31
2.5　反極圖　 　32
2.5.1　反極圖的生成　 　32
2.5.2　反極圖的測繪方法　 　33
2.5.3　反極圖的分析方法　 　36
2.6　取向分布函數(shù)　 　37
2.6.1　取向分布函數(shù)的計算　 　37
2.6.2　取向分布函數(shù)的分析　 　40
2.7　織構(gòu)測量的應(yīng)用　 　43
2.8　討論與實(shí)踐　 　53

第3章 Rietveld全譜擬合方法 54
3.1　Rietveld結(jié)構(gòu)精修原理　 　54
3.1.1　X射線衍射譜的組成　 　54
3.1.2　Rietveld方法的基本原理　 　55
3.2　計算譜的構(gòu)成　 　57
3.2.1　晶體結(jié)構(gòu)　 　57
3.2.2　其他參數(shù)　 　58
3.2.3　計算譜的合成　 　61
3.3　Rietveld精修順序　 　61
3.3.1　精修參數(shù)的分類　 　61
3.3.2　精修參數(shù)的選擇　 　62
3.3.3　參數(shù)放開的順序　 　62
3.4　精修指標(biāo)　 　63
3.4.1　精修指標(biāo)　 　63
3.4.2　殘差圖示　 　64
3.4.3　精修過程中可能出現(xiàn)的問題　 　65
3.5　精修的應(yīng)用　 　67
3.6　Rietveld精修軟件　 　70
3.7　討論與實(shí)踐　 　71

第4章 Rietveld精修實(shí)戰(zhàn)（Jade） 72
4.1　Jade全譜擬合功能特色　 　72
4.2　精修流程　 　73
4.3　物相的讀入　 　78
4.4　精修參數(shù)設(shè)置　 　80
4.5　全局變量精修　 　82
4.6　物相參數(shù)精修　 　84
4.7　晶體結(jié)構(gòu)精修　 　87
4.8　精修顯示與結(jié)果輸出　 　88
4.9　Rietveld精修的應(yīng)用　 　90
4.9.1　定量分析　 　90
4.9.2　晶胞參數(shù)精修　 　101
4.9.3　微結(jié)構(gòu)與織構(gòu)精修　 　104
4.9.4　晶體結(jié)構(gòu)精修　 　109
4.9.5　Rietveld在物相檢索中的應(yīng)用　 　114
4.10　討論與實(shí)踐　 　117

第5章 Rietveld精修實(shí)戰(zhàn)（Maud） 118
5.1　Maud的功能與安裝　 　118
5.2　基本操作界面　 　120
5.3　簡單精修　 　126
5.4　含非晶相的定量分析方法　 　137
5.5　儀器參數(shù)設(shè)置　 　143
5.6　含織構(gòu)樣品的定量分析　 　148

第6章 非晶態(tài)物質(zhì)結(jié)構(gòu)的X射線衍射分析 153
6.1　非晶態(tài)物質(zhì)結(jié)構(gòu)的主要特征　 　153
6.2　非晶態(tài)結(jié)構(gòu)的徑向分布函數(shù)　 　154
6.2.1　單一品種原子的徑向分布函數(shù)　 　154
6.2.2　多元非晶態(tài)結(jié)構(gòu)的徑向分布函數(shù)　 　156
6.3　實(shí)驗(yàn)與數(shù)據(jù)處理　 　158
6.3.1　衍射強(qiáng)度分布IM (2θ)的測量　 　158
6.3.2　數(shù)據(jù)處理　 　158
6.4　應(yīng)用　 　160

練習(xí)參考答案 165

附錄 175
附錄1　點(diǎn)群、空間群和勞厄群的符號和關(guān)系　 　175
附錄2　應(yīng)力測定常數(shù)　 　181

參考文獻(xiàn) 183