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光學(xué)測(cè)量手冊(cè)

光學(xué)測(cè)量手冊(cè)

定  價(jià):188 元

        

  • 作者:[美]凱文·哈。↘evinHarding)著,[美]凱文·哈丁編,王凡,田愛(ài)玲,倪晉平譯
  • 出版時(shí)間:2022/6/1
  • ISBN:9787118123517
  • 出 版 社:國(guó)防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TJ 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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本書(shū)涵蓋了光學(xué)測(cè)量技術(shù)的方方面面,包括光學(xué)測(cè)量技術(shù)的發(fā)展機(jī)遇與挑戰(zhàn)、傳統(tǒng)光學(xué)測(cè)量技術(shù)以及對(duì)未來(lái)光學(xué)測(cè)量技術(shù)的展望。首先概述光電測(cè)量技術(shù);然后分別針對(duì)大尺寸零件、中等尺寸零件以及微小尺寸零件的測(cè)量介紹相應(yīng)的激光跟蹤技術(shù)、位移干涉測(cè)量技術(shù)、相移技術(shù)、便攜式測(cè)量技術(shù)以及基于干涉的顯微技術(shù)、基于聚焦的光學(xué)測(cè)量技術(shù);最后,介紹先進(jìn)光學(xué)顯微測(cè)量技術(shù)及其應(yīng)用。
本書(shū)可作為從事光學(xué)測(cè)量技術(shù)工程師的入門(mén)書(shū),也可作為光學(xué)工程專業(yè)的本科生、研究生和教師的參考書(shū)。由于本書(shū)中的各個(gè)章節(jié)之間相對(duì)獨(dú)立,針對(duì)特定知識(shí)的閱讀,只需要閱讀相應(yīng)的章節(jié)即可。

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