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公差配合與技術(shù)測(cè)量

公差配合與技術(shù)測(cè)量

定  價(jià):35 元

        

  • 作者:周京,黃穎主編
  • 出版時(shí)間:2023/1/1
  • ISBN:9787560666617
  • 出 版 社:西安電子科技大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁(yè)碼:147頁(yè)
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:26cm
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讀者對(duì)象:高職

本書(shū)結(jié)合新時(shí)代高職高專院校教育要求和特點(diǎn),以“必備、夠用”為原則組織內(nèi)容,力求語(yǔ)言簡(jiǎn)練、條理清晰、深入淺出,以任務(wù)引入與思考的方式引導(dǎo)相關(guān)的內(nèi)容學(xué)習(xí),強(qiáng)化理論性與應(yīng)用性的結(jié)合。本書(shū)共分八個(gè)項(xiàng)目,分別為緒論、測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)、極限與配合基礎(chǔ)、形狀和位置公差、光滑極限量規(guī)設(shè)計(jì)、表面粗糙度及檢測(cè)、螺紋結(jié)合的公差與檢測(cè)、圓錐的公差配合及測(cè)量。
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