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制冷紅外探測器組件封裝技術

 制冷紅外探測器組件封裝技術

定  價:86 元

        

  • 作者:李建林 著
  • 出版時間:2023/5/1
  • ISBN:9787502495756
  • 出 版 社:冶金工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN215 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書總結了制冷紅外探測器組件封裝技術發(fā)展的歷史和趨勢,系統(tǒng)介紹了微型金屬杜瓦封裝技術,以及真空獲得、長壽命測試與評價和高真空絕熱特性測試等關鍵核心技術。針對真空質量特性的測試與評價,分別闡述了非解真空微型金屬杜瓦的熱流、真空壽命測試裝置的構成、測試原理和方法。

本書可供紅外技術、真空技術、可靠性工程等相關專業(yè)領域的科研和工程技術人員閱讀,也可供大專院校相關領域的師生參考。

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