本書主要內(nèi)容包括：X射線粉末衍射與物相分析實(shí)驗(yàn)；掃描電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)；透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)；原子力顯微鏡分析實(shí)驗(yàn)；X射線能譜分析實(shí)驗(yàn)；光電子能譜實(shí)驗(yàn)；俄歇電子能譜實(shí)驗(yàn)；比表面和孔徑分析實(shí)驗(yàn)等。