本書系統(tǒng)地介紹了電子元器件失效分析技術及典型分析案例。全書分為基礎篇和案例篇�；�礎篇闡述電子元器件失效分析的目的和意義、失效分析程序、失效分析技術以及失效分析主要儀器設備與工具；案例篇按照元器件門類分為九章，即集成電路、微波器件、混合集成電路、分立器件、阻容元件、繼電器和連接器、電真空器件、板極電路和其它器件，共計138個失效分析典型案例，各章節(jié)突出介紹了該類器件的失效特點、主要失效模式及相關失效機理，提出了預防和控制使用失效發(fā)生的必要措施。 本書具有較強的實用性，可供失效分析專業(yè)工作者以及元器件和整機研制、生產(chǎn)單位的工程技術人員使用，也可作為高等學校半導體器件專業(yè)的教學參考書。