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材料現(xiàn)代分析技術

材料現(xiàn)代分析技術

定  價:42 元

        

  • 作者:朱和國,杜宇雷,趙軍編著
  • 出版時間:2012/8/1
  • ISBN:9787118080919
  • 出 版 社:國防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TB3 
  • 頁碼:346
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  《普通高等教育材料科學與工程“十二五”規(guī)劃教材:材料現(xiàn)代分析技術》首先介紹了晶體學基礎知識,然后系統(tǒng)介紹了X射線的物理基礎、X射線衍射的方向與強度、多晶體X射線衍射分析的方法、X射線衍射儀及其在物相鑒定、宏微觀應力與晶粒尺寸的測定、多晶體的織構分析等方面的應用;介紹了電子衍射的物理基礎、透射電子顯微鏡的結構與原理、衍射成像、運動學襯度理論、高分辨透射電子顯微技術、掃描電子顯微鏡的結構與原理、電子探針及其應用;介紹了俄歇電子能譜儀(AES)、X射線光電子能譜儀(XPS)、掃描隧道電鏡(STM)、低能電子衍射(LEED)等常用表面分析技術和熱重分析法(TG)、差熱分析法(DTA)、差示掃描量熱法(DSC)等常用熱分析技術的原理、特點及其應用;最后簡要介紹了光譜分析技術,包括原子光譜、紅外光譜、激光光譜等。書中研究和測試的材料包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子材料、非晶態(tài)材料、金屬間化合物、復合材料等。對每章內(nèi)容作了提綱式的小結,并附有適量的思考題。書中采用了一些作者尚未發(fā)表的圖片和曲線,同時在實例分析中還注重引入了一些當前材料界最新的研究成果。
  《普通高等教育材料科學與工程“十二五”規(guī)劃教材:材料現(xiàn)代分析技術》可作為材料科學與工程學本科生的學習用書,也可供相關學科與專業(yè)的研究生、教師和科技工作者使用。
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