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現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用

現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用

定  價(jià):49.5 元

        

  • 作者:楊曉東,施聞明 主編
  • 出版時(shí)間:2013/7/1
  • ISBN:9787118082807
  • 出 版 社:國(guó)防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TB9 
  • 頁(yè)碼:341
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  本書較全面地介紹了涉及本專業(yè)的現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)與分析主要內(nèi)容,及在本專業(yè)中的一些典型應(yīng)用實(shí)例,全書共分為7章。第1章緒論,介紹現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)發(fā)展、現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)。第2章 測(cè)試信號(hào)分析基礎(chǔ),包括測(cè)試信號(hào)分類與描述、周期信號(hào)和非周期信號(hào)的頻譜、隨機(jī)信號(hào)分析、匹配濾波器。第3章 測(cè)試信號(hào)處理與估計(jì),包括測(cè)試信號(hào)處理、回歸分析、參數(shù)估計(jì)和測(cè)試數(shù)據(jù)評(píng)定基本方法。第4章測(cè)試系統(tǒng)的組成與基本特性,包括測(cè)試系統(tǒng)組成和特性、傳感器基本特性、信號(hào)轉(zhuǎn)換、動(dòng)態(tài)特性測(cè)試。第5章 測(cè)試系統(tǒng)的電磁兼容設(shè)計(jì)與技術(shù)評(píng)估,包括電路容差設(shè)計(jì)、電磁兼容設(shè)計(jì)、測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)質(zhì)量評(píng)估。第6章 智能儀器與并行測(cè)試技術(shù).包括現(xiàn)代集成測(cè)試系統(tǒng)、智能儀器、并行測(cè)試技術(shù)。第7章 常用傳感器及測(cè)試技術(shù),包括加速度計(jì)、光纖傳感器、超聲波、基于網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試技術(shù)。第8章測(cè)試技術(shù)應(yīng)用分析,慣性導(dǎo)航技術(shù)、紅外圖像處理、基于GPs的測(cè)試系統(tǒng)。
  本書主要供研究生學(xué)習(xí)使用及大專院校有關(guān)專業(yè)的師生參考。

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