前言
章 X射線衍射分析
實驗一 X射線衍射儀的構(gòu)造及原理
實驗二 X射線衍射技術(shù)與定性分析
實驗三 點陣常數(shù)的 測量
實驗四 物相定量分析
實驗五 測定晶粒大小與晶格畸變
實驗六 薄膜材料的X射線反射率(XRR)測量
第二章 電子顯微分析
實驗七 掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)、工作原理及使用
實驗八 掃描電鏡的二次電子像及形貌分析
實驗九 透射電鏡的基本結(jié)構(gòu)和操作
實驗十 透射電鏡試樣制備與操作
實驗十一 選區(qū)電子衍射及相機常數(shù)的測定
第三章 能譜與光譜分析
實驗十二 X射線能譜分析方法與應(yīng)用
實驗十三 紫外可見分光光度計原理與使用
實驗十四 瞬態(tài)／穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀原理與使用
實驗十五 傅立葉變換紅外光譜的測定與解析
實驗十六 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析
第四章 其他材料現(xiàn)代分析
實驗十七 原子力顯微鏡的原理與操作
實驗十八 激光光散射測定顆粒粒度分析實驗
實驗十九 金屬材料的硬度實驗
實驗二十 熱分析儀的使用及應(yīng)用
參考文獻