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DEM插值算法適應性理論與方法

DEM插值算法適應性理論與方法

定  價:129 元

叢書名:空間建模與可視分析叢書

        

  • 作者:張錦明
  • 出版時間:2020/5/1
  • ISBN:9787121376177
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:P208 
  • 頁碼:328
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開
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讀者對象:本書可以作為地圖學與地理信息工程(系統(tǒng))、環(huán)境科學與工程、地理學、地質(zhì)學、作戰(zhàn)環(huán)境學等地球科學領域的研究生或本科生的輔助教材,也可以作為高等院校測繪科學與技術、遙感科學、地理信息科學等相關領域研究人員的科研參考書。

DEM精度研究是DEM研究體系的重要組成部分,原始數(shù)據(jù)精度、插值算法、地貌類型、采樣數(shù)據(jù)分布特征和尺度是影響DEM精度的主要因素之一。插值算法作為其中的直接因素,地貌類型、采樣數(shù)據(jù)分布特征和尺度等因素通過插值算法影響DEM精度。因此,從影響DEM插值精度的不同因素出發(fā),研究DEM插值算法的適應性問題,對降低DEM插值的不確定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意義。本書圍繞DEM插值參數(shù)、地貌類型適應性、采樣數(shù)據(jù)分布特征適應性、尺度適應性等問題展開了DEM插值算法適應性的研究和實踐。本書可以作為地圖學與地理信息工程(系統(tǒng))、環(huán)境科學與工程、地理學、地質(zhì)學、作戰(zhàn)環(huán)境學等地球科學領域的研究生或本科生的輔助教材,也可以作為測繪科學與技術、遙感科學、地理信息科學等相關領域研究人員的科研參考書。
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