本書是從微電子產(chǎn)業(yè)實際崗位需求出發(fā)，結(jié)合作者多年企業(yè)工作經(jīng)驗及一線教學(xué)經(jīng)驗編寫而成的。書中詳細(xì)介紹了目前業(yè)界常見的各類集成電路芯片的測試原理、測試方法以及測試程序的編寫，具體包括各類組合/時序邏輯電路測試、ADC/DAC芯片測試、存儲器/微控制器測試、集成運放/電源管理芯片測試等，同時還介紹了晶圓探針臺、測試機(jī)的使用。

本書可作為高職院校微電子技術(shù)專業(yè)的核心課程教材，亦可作為全國職業(yè)院校技能大賽“集成電路開發(fā)及應(yīng)用”賽項的備賽訓(xùn)練參考教材。